1 et 1Application:
La machine d'essai d'impact sur le marteau de chute est principalement utilisée pour la température de transition de la ductilité des aciers non ferritiques de la méthode de poids de chute d'échantillon, la méthode de Test est une certaine qualité du marteau élevé à une certaine hauteur, puis il y a un impact sur la chute du corps du corps martère sur la surface de l'échantillon, déterminant ainsi la résistance à l'impact de l'échantillon. La machine de test d'impact sur le marteau de chute intégrant la technologie de contrôle mécanique, électrique et automatique et pour obtenir un marteau de levage, l'alimentation, le choc, saisir le processus entièrement automatisé du marteau. En plus de la machine d'essai, est équipée de mesures de protection multicanal, améliorant considérablement la sécurité du personnel de fonctionnement et de l'utilisation de l'équipement. Cette machine est applicable pour les tests de température de transition de ductilité nul de l'acier de ferrite.
2Normes:
ASTM E208-2006, GB / T 6803-1986,Api5l3,ASTM E436-80,
ASTM E604-83
3 et 3Principales spécifications techniques:
Modèle | NDT -800 | NDT -3000 | NDT -4000 | NDT-6000 |
Max Impact Energy(J) | 800 | 3000 | 4000 | 6000 |
Énergie à impact min(J) | 300 | 350 | 600 | 750 |
Qualité du marteau(Kg) | 70 | 70 | 80 | 80 |
Erreur de qualité du corps du marteau principal | ± 1% | |||
Hauteur d'impact (mm) | 750 mm ～ 3200 | |||
Vitesse d'impact (m / s) | 3.8-7.6 | |||
Vitesse de marteau de levage (m / min) | 7 | |||
Hauteurtestrésolution(mm) | 0.1 | |||
Hauteurtesterreur(mm) | ≤ ± 10 | |||
Dureté de la lame de marteau | HRC≥50 | |||
Rayon de courbure de la lame à marteau | R25 mm | |||
Portant la dureté | HRC58 ～ 62 | |||
Centre de lame à marteau、Centre d'échantillonetDéviation du centre de support(mm) | ≤ ± 2,5 | |||
Sgrande envergure(mm) | P-1: 305 P-2 、 P-3: 100 | |||
Taille de l'échantillon (mm) （longueur × largeur × épaisseur） | Échantillon P-1: （360 ± 1） × （90 ± 2） × （25 ± 2,5） Échantillon P-2: （130 ± 1） × （50 ± 1） × （20 ± 1） Échantillon P-3: （130 ± 1） × （50 ± 1） × （16 ± 0,5） | |||
Dispositif à basse température élevé | -70 ℃ - 150 ℃ |
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